张艳超，高 策，刘建卓，王 博，杨 帅

(中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所，吉林 长春 130033)

1 引 言

在利用红外热像仪进行红外辐射测温过程中，受到红外辐射特性的限制以及本身电特性的影响。外部环境参数以及探测器本身热特性将发生改变，这些都对测温精度造成较大影响。因此，要实现高精度的红外辐射测温，需要分别对影响测温精度的各主要因素进行逐一建模和系统研究，以进一步提高红外成像测温系统的测温精度和环境适应性。影响红外测温精度的因素较多，大体上可分为外部影响因素和内部影响因素。

外部影响因素包括目标发射率，大气透射率，环境温度、测试角度等。对于外部因素的影响，可通过相应的测算软件或数据库获得相应数据后，带入被测表面真实温度计算公式对热像仪测试结果进行修正[1-2]。

内部影响因素包括工作温度、镜筒辐射温度、探测器半导体器件温升作用、开始时间等。各个影响因素互相关联、互相影响，严重影响了红外测温设备的测量精度。要对各个影响因素逐一建模，去除其他因素的影响，难以实现。因此，必须选取一个或几个有代表性的因素作为探测器灰度随温度变化的衡量尺度。然后，通过采取一定标定和修正方法，来予以消除。

综上可知，内部影响因素是影响热像仪实现高精度测温和标定的主要问题。 此外内部影响因素对测温结果还具有时间累积性，对于同一温度下的面源黑体，当热像仪处于不同热状态时，往往导致测温结果差异较大。……