谢卫萍，陈希跑，姚懿容，卢焕明，李 勇，张公军

（中国科学院宁波材料技术与工程研究所，浙江 宁波 315201）

0 前言

液晶显示具有功耗低、重量轻、厚度薄等优点，已经成为应用面最广、产业化程度较高的一种显示器件，广泛应用于移动电话、数码相机、电脑、航空航天器件用等各种图像显示器[1-2]。但液晶显示器属被动发光元件，它本身不能发光，需要靠背光模组调制光源以达到显示的目的[3]。液晶显示器的光学明暗度依赖于后部的背光模组，背光模组的品质直接决定了产品的显像质量，因此在背光模组的生产及组装过程中对产品进行质量检测和评价就显得尤为重要。背光模组表面如果有异物存在将影响背光模组的导光、反光、匀光、集光、光回收等作用，从而导致显示屏显示器质量的下降[4]。因此在生产组装过程中，对发现的异物进行成分分析，确定异物产生原因并及时防范是十分重要的。但是很多生产过程中的异物比较微小，很难通过肉眼及宏观分析技术去分辨其成分与来源，故需要通过显微分析技术进行分析。

显微分析技术可大致分为光学显微技术及电子显微技术两大类，是一种能实现肉眼所不能分辨的微小物体形态结构及其特征分析的良好手段，在材料科学、法庭科学、环境检测等领域微观结构的分析中得到广泛应用[5-8]。本工作拟通过结合显微红外光谱仪、显微拉曼光谱仪、扫描电子显微镜及X射线能谱仪建立一种显微分析方法，实现对背光模组表面微米级异物的分析，确定异物成分，并对异物形成的原因进行分析。……