丁朝显

摘要：在本文中，对晶振相噪设计方法和影响因素进行了相应的研究和分析，其中，主要探究的内容是有载品质因数值和电路结构等对相噪产生的影响，同时，将改进型的巴特勒振荡电路在小体积下进行了超低相噪恒温晶振的设计作为重要的基础，由此对稳压电路和主振电路等进行了相应的分析和研究。

关键词：超低相噪；恒温晶振；设计

在多个整机电子设备中，晶体振荡器占据着至关重要的位置，是其关键和核心，对整机的性能指标有着一定的决定性的作用。对于信号源来说，晶体相噪指标是非常重要的一项影响因素，同时，对于整机的性能参数的意义和作用也是不容小视的，除此之外，还是晶振中不可忽视的一项指标。

一、理论阐释

晶体振荡电路中的多种元件都会产生噪声，主要包括三极管、电阻和电容等等[1]，在这几种元件中所产生的噪声最大的是三极管，所产生的噪声最小的是电容等，甚至可以将其当作是无声的。振荡器的构成主要包括两个部分，分别是放大器和正反馈元件，将正反馈元件加到放大器上，在此過程中，噪声发挥着重要的作用，会调制振荡器信号，从而形成一定的噪声模式，主要包括白噪声调相、白噪声调频和闪变噪声调相等[2]。

将LESSON模型作为重要的对象，对其进行全面、深入地分析和研究，将此作为重要的依据和参照，晶体振荡器的相位噪声和晶体振荡电路的有载品质因数值之间有着非常密切的联系，两者之间是相互关联和影响的，当有载品质因数的值越高的时候，相位噪声恶化的程度就越低[3]。……