基于LM35的高精度温控系统的设计

2017-09-03李香宇任建存王世功徐向美

电子设计工程 2017年15期

关键词：系统设计

李香宇，任建存，王世功，徐向美

（1.海军航空工程学院山东烟台 264001；2.烟台东方分析仪器有限公司山东烟台 264001；3.烟台南山学院山东烟台 264001）

基于LM35的高精度温控系统的设计

李香宇1，任建存1，王世功2，徐向美3

（1.海军航空工程学院山东烟台 264001；2.烟台东方分析仪器有限公司山东烟台 264001；3.烟台南山学院山东烟台 264001）

温度稳定性是仪器仪表制造的一个关键的技术指标，因此设计采用线性较好的温度传感器LM35，通过对传感器、信号放大及AD采样电路的优化，提高温度采样精度，采用高度集成的STM32F103，内置数字PID控制算法，结合PWM控制模式，不仅大大提高温度控制精度，也提高了控制效率，有效地提高仪器仪表测量分析性能。

温度传感器LM35；STM32F103；温控系统；PID

对于仪器仪表制造中，温度稳定性成为一个非常关键的技术指标[1]。特别是光学仪器，环境温度波动会造成光学机械结构漂移，给仪器测量分析带来较大系统误差，温度成为制约仪器工作稳定性的关键因素[2]。一般情况下，仪器仪表都是安装在室内，正常工作温度一般在0～40℃，而一些高精密的仪器还需要在室内专门安装空调设施，保证室内温度相对恒定。所以，针对仪器仪表的关键系统只需要控制在超过室内温度即可，一般在30～40℃。为了保证仪器关键系统稳定工作，达到最佳工作性能，由此设计仪器仪表的恒温控制系统显得尤为重要。