韩慧珍， 邓振波， 胡煜峰

(北京交通大学光电子技术研究所 发光与光信息技术教育部重点实验室， 北京 100044)

MEH-PPV/PEG聚合物电双稳器件的研究

韩慧珍， 邓振波， 胡煜峰*

(北京交通大学光电子技术研究所 发光与光信息技术教育部重点实验室， 北京 100044)

将PEG(聚乙二醇)引入到 ITO/MEH-PPV(聚(2-甲氧基, 5(2'-乙基己氧基)-1,4-苯撑乙烯撑)/Al三明治器件中，实现了很好的电双稳性能。通过改变PEG的分子量、浓度以及退火温度等条件，对器件性能进行了优化。通过电流-电压(I-V)测试研究了不同器件的性能，结果表明，分子量为4 000的PEG，在30 mg/mL的浓度下，通过120 ℃退火制备的薄膜，其器件性能最优，电流开关比可以达到103以上。利用SEM测试研究了活性层的膜形貌，并结合电流-电压(I-V)曲线的线性拟合，分析了电荷在器件中的传输过程。研究发现，相分离产生的陷阱对电荷的俘获是该器件产生电双稳特性的主要原因。

PEG； MEH-PPV； 有机电双稳器件； 陷阱； 电荷俘获理论

1 引 言

电双稳器件由于其独特的开关特性成为半导体电子学领域中重要的电子器件，广泛应用于电开关、电子元件，存储器以及逻辑电路中，在信息和电子工业等领域都有着广阔的应用前景。有机电双稳器件相比于无机存储器件，具有制作简单、存储密度高、成本低以及可在柔性衬底上制备等优点[1-3]，有潜力成为新一代存储器件发展的主流方向[4]。在有机电双稳器件的材料选取上，有机-无机纳米杂化材料及有机金属配合物材料[5]一直处于主流地位，如银(Ag)[6]、硫化银(Ag2S)[7]、氧……