邹 峰（江苏省自动化研究所，连云港 222061）

电子装备贮存失效研究现状分析

邹 峰
（江苏省自动化研究所，连云港 222061）

针对国内外电子装备贮存可靠性研究历史进行了阐述，对贮存失效相关的贮存剖面、贮存失效机理、贮存可靠性评估模型和方法进行归纳总结，并最终得出电子产品贮存失效研究的几点结论。

电子装备；贮存失效；研究现状

引言

通常，在装备全寿命周期研制需求中，会明确系统中的电子产品在长期贮存之后可靠性仍可满足要求。很多装备具有“长期贮存，一次使用”的特点，但要保证“召之即来，来之能战，战之能胜”，就必须具有很高的贮存可靠性水平[9]。而在目前的装备研制条件下，随着系统的复杂性增大，其组成的各个构件也表现出多种类、大数量的趋势，从而在贮存的阶段出现了多种失效模式和失效机理。从上个世纪开始，有关装备的贮存可靠性和贮存失效机理的研究就从未中断过，而这个领域的发展也使装备充分发挥了其作战效能。

1 贮存可靠性研究现状

早在1970年左右，美国和俄罗斯等国家就对产品的非工作可靠性（含贮存可靠性）进行了广泛和深入的研究，在自然贮存、加速贮存以及贮存可靠性试验方法的研究等相关工作上具备了较高的水平[8]。

1976年，美国陆军针对某型装备开展了贮存性能的研究工作，在十年时间内，对装备贮存期间的性能进行持续测试，并对发现的问题进行了深入地分析。到上世纪80年代中期，由美国伊利诺斯理工学院所提出的技术报告（AD-A158843）中，给出了利用元器件贮存失效率预计模型及历史数据确定产品可靠性随贮存周期变化影响的方法。……