张建伟， 丁秋红， 周 彬， 滕 飞， 马万里， 王政操， 陈晓明， 李志远

(1.大连理工大学 电子科学与技术学院， 辽宁 大连 116024；2.哈尔滨工业大学 空间基础科学研究中心，哈尔滨 150001；3.黑龙江大学 电子工程学院， 哈尔滨 150080)



一种采用单双跳变的低功耗确定性BIST方案

张建伟1， 丁秋红1， 周 彬2， 滕 飞1， 马万里1， 王政操1， 陈晓明1， 李志远3

(1.大连理工大学 电子科学与技术学院， 辽宁 大连 116024；2.哈尔滨工业大学 空间基础科学研究中心，哈尔滨 150001；3.黑龙江大学 电子工程学院， 哈尔滨 150080)

为实现低功耗和高故障覆盖率，基于单跳变测试技术和2-bit扭环计数器，提出一种新型的单双跳变的确定性测试向量产生器. 首先，与一般的确定性测试方案直接存储确定性种子不同，利用ROM存储控制信号并通过单双跳变生成确定性种子和确定性测试向量，这样控制信号的长度约为确定性种子的1/2，有利于降低功耗并节约存储空间. 其次，2-bit减法计数器合理地过滤了冗余向量，大大缩短了测试时间并降低总体能耗. 最后，为了适应不同的测试需求，还设计了相应的测试向量压缩算法和三种x指定算法. 实验结果表明，平均功耗分别降低了42.36%、32.32%、38.94%，测试长度分别减少了77.6%、86.1%、84.3%，测试数据分别压缩了79.4%、65.2%、68.1%.

扭环计数器; 低功耗；确定性；测试向量生成器; 单跳变

近些年来，由于制造工艺不断减小，测试规模不断加大，这些都增加了ATE测试平台的硬件需求，如测试通道个数和测试向量存储空间的大小. 在这样的背景下，内建自测试BIST(built-in self-test)技术被提出. 为了降……