刘 江，张 辰

（1.中国西南电子技术研究所，成都　610036；2.浙江大学信息与电子工程学院，杭州　310027）

均匀平面阵下的二维DOA估计与互耦自校正*

刘 江**1，张 辰2

（1.中国西南电子技术研究所，成都610036；2.浙江大学信息与电子工程学院，杭州310027）

针对存在互耦效应时均匀平面阵的测向鲁棒性问题，提出了一种基于秩损准则的互耦自校正算法。根据对互耦效应的先验知识，提出的算法只需将受互耦扰动的阵列响应在变换域中重新排列，便可在后续处理中屏蔽掉互耦效应的不利影响，同时也避免了现有工作中存在的阵列孔径损失问题。借助秩损估计原理，在变换域中设计了一种巧妙的计算步骤，使得方位估计的降维操作得以实现；并且，后续还可通过特征分解法得到更精确的互耦系数估计，以进行阵列误差自校正。与现有的研究工作相比，所提算法无论是在估计精度，还是在计算效率上均有着显著的性能优势。

均匀平面阵；到达角估计；互耦效应；自校正；秩损准则

1　引言

利用天线阵对信源到达角（Direction of Arrival，DOA）进行估计的课题在许多领域得到了广泛的研究，比如跟踪雷达、声呐及移动通信等。在过去的20年中也涌现出一系列高分辨率测向算法［1］，但这些算法的有效性大多依赖于精确已知的阵列流形。然而，实际的天线阵中存在着固有的互耦效应，此时理想的阵列流形将不可避免地被未知互耦效应所扰动，若不对其加以考虑的话，高分辨率测向算法的性能会严重恶化，特别是当阵元间距较小时［2］。……