星载温度传感控制芯片的自动测试系统*
2016-10-21刘童陈华邱仅朋王志宇刘小敏王立平郁发新
传感技术学报 2016年9期
刘童,陈华,邱仅朋,王志宇,刘小敏,王立平,郁发新
(浙江大学航空航天学院,杭州310027)
星载温度传感控制芯片的自动测试系统*
刘童,陈华*,邱仅朋,王志宇,刘小敏,王立平,郁发新
(浙江大学航空航天学院,杭州310027)
为了评估星载相控阵T/R组件的电性能、温度传感和抗单粒子效应能力,针对星载X波段T/R组件中一款自主研发的温度传感控制芯片,设计开发了一套基于LabVIEW的自动测试系统。系统采用高速数字I/O技术,提高了芯片电性能测试速度;同时系统具备高精度自动温度测试功能,能够精确评估芯片温度传感性能;另外系统具备数据自动处理功能,能够完成芯片电性能测试数据和设计指标的比对、温度测试数据和标定温度的误差分析以及单粒子效应试验前后数据变化量统计。最后采用本系统对芯片功耗、温度传感和抗单粒子效应能力进行了实测分析,测试结果表明该芯片功能正常、性能良好,可用于温度剧烈变化和充满空间辐射的航天环境,同时测试系统具备操作简单、可移植性好、测试速度快和测试精度高等优点。
相控阵雷达T/R组件;温度传感控制;自动测试系统;单粒子效应
EEACC:2560;7210;7210Adoi:10.3969/j.issn.1004-1699.2016.09.026
星载相控阵雷达具备波束快速扫描能力、多波束形成能力、空间定向与空域滤波能力,广泛应用于星间通讯、目标探测和高分辨率对地观测系统[1-3]。与普通地基、海基等非空间相控阵系统不同,星载相控阵系统工作在温度剧烈变化、充满空间辐射的极端恶劣环境,因此,作为系统核心部件的微波发射/接收T/R(Transmit/Receive)组件必须具备监控系统温度和对空间辐射免疫的能力。……
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