余勃彪，宋太亮，王琴琴

（1.装甲兵工程学院 技术保障工程系，北京 100072；2.海军工程大学 兵器工程系，武汉 430033；3.中国国防科技信息中心，北京 100142；4.72726部队，济南 250023）



弹用O型硅橡胶密封圈失效机理及模型

余勃彪1,2，宋太亮3，王琴琴4

（1.装甲兵工程学院 技术保障工程系，北京 100072；2.海军工程大学 兵器工程系，武汉 430033；3.中国国防科技信息中心，北京 100142；4.72726部队，济南 250023）

目的 利用日常收集到的使用数据来判断密封圈寿命，为预测弹药寿命提供依据。方法 分析O型圈故障模式，引入了故障率经验公式。规范化O型密封圈的故障率公式，导出综合考虑了密封圈尺寸、接触应力与密封圈硬度、流体黏度、温度的密封圈故障率模型，并用算例验证这一模型的有效性。结果 O形硅胶密封圈的主要故障模式是泄漏，导出了综合考虑各因素后的密封圈故障率模型，并用该模型准确算出了某弹药的寿命。结论 文中导出的故障率模型对于在弹药保障工作中评估某些种类弹药储存期限有借鉴意义。

O型密封圈；失效机理；弹药

新型弹药广泛使用O型硅橡胶密封圈。O形密封圈是具有圆盘状横截面，呈环状的机械垫圈，它压缩于两个零件之间，在界面处形成密封，主要阻止外部潮湿、含盐空气进入弹药内部。根据工作界面有无相对运动可将其分为静态密封圈和动态密封圈。弹药上使用的密封圈大都属于静态密封件。由于O型密封圈材料特点，在贮存和使用过程中受到温度、压力等外部应力作用，会出现变形、挤出、磨损等失效，进而导致弹药失效［1—4］。……