刘宏伟，杨　华，程俊超，郭　凯

（天津工业大学 电子与信息工程学院，天津　300387）

LED光谱温度特性测试与分析

刘宏伟，杨华，程俊超，郭凯

（天津工业大学 电子与信息工程学院，天津300387）

搭建由半导体制冷片和光谱仪组成的LED变温发光特性测试系统，使用多通道温度测试仪记录芯片工作温度，得到LED芯片在30～80℃范围内的发光特性与温度的关系.结果表明：在输入电流恒定时，随着芯片材料温度的不断升高，LED的电功率和光功率降低，LED光效下降趋势明显；同时由于材料禁带宽度减小，GaN LED的蓝光峰值波长发生红移；通过上述测试，利用数值拟合方式得到了芯片发光特性与温度之间的函数关系.

LED光功率；光效；温度；峰值波长

在当今能源稀缺的背景下，LED光源凭借其能效高、寿命长、可靠性高、体积小、可控性好等优点［1］，受到各国政府和科研机构的密切关注.美、日、欧等发达国家均将半导体照明产业和技术纳入未来发展计划，半导体照明将逐步取代传统照明［2-3］.随着LED技术的发展，大电流驱动的功率型LED照明应用越来越广，因此器件的热损耗增加，导致LED的可靠性降低，在一定程度上阻碍了LED技术的应用和推广［4］.

对于大功率LED，芯片热量的散发大多依靠灯具散热器将热量传导出去［5］.散热性能不高的系统，会导致LED在大功率应用时结温过高，使LED光效降低，光衰速度加快［6］.因此对LED照明系统的光－电－热特性进行准确的分析十分必要.Hui［7-8］提出了一种LED光电热分析理论，旨在解决LED器件和系统的结……