滕柳梅

(重庆市2011计划微纳米光电材料与器件协同创新中心，重庆文理学院新材料技术研究院，重庆　402160)



Agilent 5500型原子力显微镜在教学实验中的设计探讨

滕柳梅

(重庆市2011计划微纳米光电材料与器件协同创新中心，重庆文理学院新材料技术研究院，重庆402160)

通过以Agilent 5500型原子力显微镜为模板，主要介绍了原子力显微镜的工作原理、工作模式分类以及主要功能介绍，并以还原硫酸铜为例介绍了原子力显微镜在科研中的广泛应用。结合本人在科研和教学方面的经验，阐述了在教学实验设计中开设原子力显微镜有关实验的必要性和重要意义，提出了在仪器分析实验中开设原子力显微镜有关实验的具体建议。

原子力显微镜；仪器分析实验；教学改革

原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)是一种纳米级高分辨的扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope,SPM)，是1986年由美国IBM公司的Gend Binnig和斯坦福大学的Quate研发出来的[1]，其主要目的是为了弥补扫描隧道显微镜(Scanning tuning Microscope,STM)只能对导体进行观测的缺陷。AFM是利用样品表面与探针之间存在的相互作用力来成像的，因而它弥补了扫描隧道显微镜要求样品必须导电的缺点，它可以在大气以及液体的环境下对各种样品进行纳米区域的物理性质进行检测[2-4]。

1　AFM工作原理及工作模式

1.1工作原理

原子力显微镜的工作原理是基于原子与原子之间的相互作用力，将一个对微弱力极其敏感的微悬臂的一端固定，另一端有一微小的针尖。当针尖慢慢逼近样品时，针尖尖端的原子……