■王传青（华东冶金地质勘查局815地质队安徽巢湖238000）

X射线荧光光谱法分析地质样品的应用技巧

■王传青
（华东冶金地质勘查局815地质队安徽巢湖238000）

X射线荧光光谱法(XRF)具有制作简单、绿色环保、灵活性强等特点，它在地质样品分析中的应用可以有效地提高分析的质量和效率。本文分析了地质样品测量中的重要元素和影响因素，提出了X射线荧光光谱法(XRF)具体测量方案和应用技巧，旨在提高分析的精确度。

X射线荧光光谱法 地质样品 分析 应用技巧

0　前言

近年来，X射线荧光光谱法(XRF)被广泛应用于地质勘查，它制作简单、绿色环保、灵活性强等特点能够有效地提高地质样品分析的工作效率和精度，另外，X射线荧光光谱法(XRF)除了其具有主量、次量元素的分析精度、准确度和自动化程度高等多元素分析的特点，它的核心技术——粉末压片XRF，更是现在快速经济的主导方法之一。地质样品测试人员在利用粉末压片法XRF进行地质样品的测试时，可以很好地减掉对地质样品进行酸碱分解处理的工序和时间，提高工作效率，化繁为简，同时还能够有效地减少环境污染问题，其是一种非常环保的绿色分析技术。因此，相关部门应当充分利用X射线荧光光谱法(XRF)来辅助地质样品的分析，进而，提高对地质样品分析的质量。

1　测量条件选择的要点分析

X射线荧光光谱法(XRF)具有能够同时分析测试地质样品中的十多种元素的功能，然而，地质样品中的每一种元素在测量时都需要选择适合的测量条件，因此，相关地质样品测试人员在利用XRF来进行地质样品测量之前，应当做好元素的测量条件选择工作。……