张长亮+朱启强+柴慧斯

摘要：本文针对垂直探测电离图的复杂性和特殊性，提出了一种提取垂直探测电离图描迹的方法。该算法先去干扰，然后进行OS-CFAR检测，最后去虚警点。通过对实测数据的处理，表明这种方法能够有效去除干扰并保留电离层信息，并且可移植度高，适合工程应用。

关键词：垂直探测；描迹提取；去虚警点

中图分类号：TP18 文献标识码：A 文章编号：1009-3044（2016）15-0207-03

Abstract：In this paper， the complexity and specificity of detecting vertical ionization diagram is proposed a method for extracting a vertical ionization detection trace of FIG. The algorithm go to interference， then OS-CFAR detector， and finally to false alarm points. By processing the measured data， it shows that this method can effectively remove the interference and retain ionosphere information， and may be high transplant， suitable for engineering applications..

Key words： Oblique ionogram； Trace extraction； OS-CFAR

由于电离层垂直探测所工作的频段为短波段，它是通过发射点垂直向上发射脉冲信号，通过扫频的方式，接收设备在发射频率上接收到由电离层反射的信号，通过信号处理，最终得到电离层的传播时间以及频高图，根据对频高图的度量分析和反演，可以获得电离层特征参数，以及探测点上空峰值高度以下电子密度随高度的分布，但一套完备的电离层垂直探测系统在探测过程中被其他信号干扰，就很难提供实时准确的电离层信息，因此，能够有效的去除干扰，对提供电离层虚高、电离图描迹作用明显。目前，影响电离层描迹提取的干扰包括短波电台、短波通信、大气噪声以及低频段的未知同频信号等。

目前国内外虽有一些关于垂直探测电离图描迹提取的文章，但以往电离图描迹提取是在图像域进行，这类方法在去除同频干扰阶段信号损失严重。部分文献给出了一些关于电离图描迹提取的方法，但大多方法计算步骤繁琐，可操作性很低。本文提供的方法中，在进行恒虚警描迹之前先进行了频域去干扰。……