文/庞贝　毛艳玲



冯士维：为信息时代的“心脏”测温

文/庞贝毛艳玲

人物简介

冯士维，工学博士、教授、博士生导师，北京工业大学微电子学院执行院长。国家科委国际合作项目和教育部留学基金评审专家，入选北京市科技新星计划、“百千万人才工程”国家级人选、享受国务院政府特殊津贴。

主要研究方向为微电子器件及光电子器件可靠性物理、新型半导体器件和技术、半导体光电子学等。主持和作为主要成员完成国家自然科学基金、北京市基金、总装备预研基金、国防科工委、北京市科委等纵向研究课题二十多项，主持与企业合作研究横向课题十多项。获北京市及省部级科技进步奖4项、发明专利23项，获国家发明博览会金奖1项。发表论文200余篇。

信息时代，与我们生活息息相关的一切信息产品都离不开这个心脏——“芯片”，然而芯片的热损耗却令人头疼。如何让芯片在可承受的温度内工作，保持“心脏”的健康“跳动”，工程师们都在殚精竭虑。

冯士维与他的研究团队新型半导体器件及可靠性研究室在这一领域先声夺人，研究出“半导体芯片温升测量与热阻构成测试技术”、“器件温度特性快速获取方法和技术”和“半导体芯片表面温度分布均匀性无损检测评价方法”等,以特殊而敏锐的“嗅觉”监控并预测芯片工作温升，避免芯片遭受高温下性能失效的灭顶之灾。我们为此采访了冯士维教授。

记者：“半导体芯片结温测量和热阻构成无损检测方法”的主要研究内容是什么？……