田晓倩，孙晓光，田海峰

(北京自动化控制设备研究所，北京 100074)

基于磁共振线宽的Xe核自旋横向弛豫时间测量方法

田晓倩，孙晓光，田海峰

(北京自动化控制设备研究所，北京 100074)

随着核磁共振陀螺技术的发展，高精度核磁共振陀螺对原子气室性能提出了更高要求。原子气室内Xe核自旋的横向弛豫时间(T2)是衡量原子气室性能的重要参数之一，T2的常用测量方法为自由感应衰减法(Free Induction Decay，FID)。当T2较短时，由于自旋进动信号易受外界干扰，FID方法难以对T2进行精确测量。根据磁共振线宽理论以及自旋进动信号检测技术，针对T2较短的原子气室，提出了基于磁共振线宽的Xe核自旋横向弛豫时间测量方法，构建了测试装置，对Xe核自旋进行了测试。测试结果表明，该测量方法能够有效获得Xe核自旋的横向弛豫时间，克服了FID方法对T2较短的原子气室难以测量的局限性，为检验核磁共振陀螺中原子气室的性能提供了有效测试手段。

核磁共振陀螺；原子气室；横向弛豫时间；线宽

0 引言

随着量子调控技术的发展，核磁共振陀螺已成为未来高精度、小体积陀螺的主要发展方向之一[1-4]。原子气室是核磁共振陀螺的敏感表头，内部包含用于敏感角运动的惰性气体原子，本质上决定核磁共振陀螺能够达到的性能极限[5]。气室内惰性气体原子的核自旋横向弛豫时间(T2)是衡量原子气室性能的一个重要参数，直接影响陀螺的角随机游走。因此，对原子气室内惰性气体核自旋的T2测量至关重要。……