杨慧敏 雷源春

摘要：本文分析了嵌入式测试系统的技术特点和国内外研究的现状，总结对比各类文献关于计算机硬件测试的技术方法后，指出了目前嵌入式测试平台所存在的测试自动化程度不足、硬件测试兼容性较低的问题，并针对问题给出了建立硬件识别系统、硬件测试系统以及上位机控制系统的解决方法。同时研究了一种使用独立控制器的硬件识别系统，探讨了测试平台对硬件识别的要求和实现硬件自动识别的关键技术，提出了一种嵌入式硬件识别系统，并对其技术方案并进行了研究，包括电路框架、扫描及反馈策略、识别逻辑流程、识别控制指令、硬件ID编码。并以识别控制器为核心，构建了硬件识别系统的电路，并为电路进行了逻辑仿真，验证了硬件识别系统的有效性。

关键詞：嵌入式系统；测试平台；硬件识别；识别控制器；ID编码

1引言

在电子技术领导的科学技术高速发展的今天，嵌入式技术在消费市场、工业控制、科学研究、军工等领域上有着重要的地位。这些嵌入式电子产品也在性能、功耗控制和智能化等方面不断地追求提升和创新。因此，产品研发企业也对产品的研发过程提出了更快、更精密和更大规模等要求。为了满足这些研发要求，一方要求研发人员有更高的知识和经验水平，另一方面要求研发时所采用的调试系统平台具有更多的辅助功能来提高研发的效率。

目前，应用于嵌入式调试系统平台上的一些扩展技术，确实有助于研发人员减少一定的工作量，提高研发的效率。……