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泰克为100G 短距离光测试推出自动测试支持

2015-03-25

单片机与嵌入式系统应用 2015年11期
关键词:泰克自动测试全自动

泰克科技推出全自动发射机色散眼图闭合(TDEC)测量和100GBASE-SR4合规性测试解决方案,确保新产品设计满足这一光规范,使这一复杂过程变得更快、更简便。

802.3bm 标准工作及其互操作能力承诺拓宽了已经非常活跃、竞争激烈的100G 光模块和系统市场。这里,合规性测试变得异常重要,要求强健的验证工具。通过增加TDEC 测 量 及 全 面 的100GBASE-SR4 合 规 性 测 试 支持,泰克现在提供了交钥匙式全自动光测试解决方案。这一解决方案基于DSA8300 等效时间示波器,并配有80C15光模块——这是在25.781Gb/s以上速率支持全面时钟恢复和TDEC自动化的光工具。

光合规性测试要求低噪声采集。通过密集开发光采集技术,泰克提供了极低的噪声和极高的灵敏度,甚至实现了全面时钟恢复。泰克80C15光模块中的噪声性能水平可以满足光通信产业的各种测试需求,现在支持全套TDEC和SR4合规性测量。

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