王晓惠，刘 超，陆英仕，楼宇丽

(昆明理工大学理学院，昆明650500)

引 言

在光学无损检测领域中，全息技术是一种精密检测技术［1-5］。与传统全息相比，数字全息省去了底片处理的过程，大大节省了时间，由于缩短了曝光时间，从而降低了对振动的敏感性，可以定量地得到相位信息。数字全息的这些优点使它适合应用于物体3维形貌及微形变等物体量的测量［5-6］。实时数字全息检测研究中，测量物体表面微形变这一类物理量时，需要实时检测观测点不共面的3个位移矢量，通常使用3种不同波长的激光进行彩色数字全息检测。当被测量物体的投影尺寸与CCD面阵尺寸有较大差异时，为让CCD较好地接收物光场信息，采用光学系统对物光场进行变换是通常采取的措施。例如，让物光通过不同性质的透镜组成的显微镜或变焦系统［7-9］，将物体成像在CCD平面。然而，由于透镜的焦距是光波长的函数，当使用多种波长的光照射物体时，不同波长的光对应不同的像平面。因此，当光学系统给定后，准确确定不同波长光照射下物体的像平面，并通过数字全息重建不同色光的物体像，是应用研究中必须解决的问题。

当光学变换系统可以由四元素的光学矩阵描述时，将矩阵光学与衍射光学相结合，LI等人提出在像空间及物空间进行物光场重建的方法［7］。然而，当光学系统由多个光学元件组成时，必须准确知道每一光学元件的光学参量及构成光学系统时所在的准确位置。……