孟令刚，赵晓嫣

（中国测试技术研究院，四川 成都 610021）

高频相移器测试方法研究

孟令刚，赵晓嫣

（中国测试技术研究院，四川 成都 610021）

为解决高频相移器的溯源问题，在介绍相移器工作原理基础上，分析高频相移器的相移准确度、绝对相位测量准确度、插入损耗和电压驻波比等性能指标。利用网络分析仪、校准件、低失真信号发生器和高准确度相位计搭建相移器的测试平台，阐述相移器的基本校准方法和校准步骤。通过建立不确定度传播率的数学模型，分析相移器的相移参数测量的不确定度分量来源，从而对被测相移器核心参数的准确度进行不确定度分析和评估。实现高准确度相移器的溯源方法，提高信号相移控制的准确度。

相移；相位测量；插入损耗；不确定度

0 引 言

相位是无线电计量领域的重要参数之一。与衰减测量相比，相位测量的准确度更难以控制。相移器是测量相位的重要仪器和基本器件，其中高频相移器广泛应用于各种通信、微波和雷达系统[1]。随着电子技术的发展，相位测量方法和测量技术也逐渐完善，就技术手段而言，主要有FPGA/CPLD，DSP以及PLD/PLL技术。在相位测量领域，美国一直处于领先水平，主要有Agilent、Tektronix及DRANETZ实验室，德国、英国也有较高的水平。由于我国相位测量起步较晚，国内主要有天津中环电子、中国计量院和国防科工委等研究机构，主要针对低频相位计的测量。因此，为了保证高频相移器的测量准确性，本文在对高频相移器原理分析的基础上，对此类仪器校准方法进行研究，并进一步探讨其核心参数的不确定度分析和评估，为同类仪器的校准和测试提供必要的技术依据[2]。……