孙浩杰+李梦远+庄杰+李柏承+张大伟+杨卫桥

摘要： 针对LED器件光强分布的测试方法，在传统光源配光曲线的测试原理的基础上，阐述了旋转法、多探测器法测试LED光强分布的方法。由于这些方法存在测试时间长、测量准确度低以及定标繁琐的缺陷，进而介绍了一种新型测试方法及装置，即通过CCD光度探测器接收光强度，经过CCD的光电转换功能将光强度信号转换为电信号，再通过成像系统软件便可得到整个半球面空间内壁的光强图。新的测试方法具有测试速度快、精度高、信息量丰富和直观性的显著优点。

关键词： 发光二极管（LED）； 配光曲线； 光强分布

中图分类号： TN 36文献标志码： Adoi： 10.3969/j.issn.10055630.2014.06.019

引言LED（发光二极管）作为最新型的第四代照明光源逐渐被应用于普通的照明领域，不同于传统照明光源，无论是LED的发光原理还是LED的发光特性，甚至包括其发光驱动特性以及光源结构，都有着显著的差别。由于LED的特殊性，对于LED光强分布的特性测试，需采取相应的测试方法和技术[12]。由于目前国内业界缺乏明确的LED发光强度标准，造成LED光强分布测试技术的滞后。现有的LED光强分布特性的测试，往往采用传统光源配光曲线的测试方法，将LED视为一个点光源，回避了LED光源特性测试方面存在的技术难题。该方法得到的结果并不能真正反映LED独特照明原理的发光特性。如何准确测量LED空间光强分布方法[3]以及获得LED空间光强分布三维图成为当今业界研究的重点课题。目前普遍使用的传统配光曲线[45]大多采用旋转的方法测试，能够准确得到在一个二维平面上光源的光强分布曲线。……