张东磊

【摘要】在公司现有硬件平台基础上，开发设计测试程序对NORFLASH存储芯片进行测试。实验结果表明，该测试程序的设计能避免由于无测试工具而无法测试到的储存区块损坏造成的设备运行异常，并实现测试自动化。

【关键词】NORFLASH;存储芯片;测试程序

NOR FLASH技术是Intel于1988年开发的，其特点是芯片内执行，即应用程序可以直接在FLASH闪存内运行，不必再把代码读到系统RAM中，是现在市场上主要的非易失闪存技术之一。其传输效率高，在1～4MB的小容量时具有很高的成本效益[1]。基于其特点NOR FLASH存储芯片市场应用率高，而目前没有专门对NOR FLASH存储芯片进行测试的工装和工具。本文就笔者开发的NOR FLASH存储芯片测试程序予以详细分析。

图1 NORFLASH硬件原理图

图2 NORFLASH命令定义

1.NOR FLASH存储芯片

NOR FLASH是INTEL在1988年推出的一款商业性闪存芯片，它能够提供完整的寻址与数据总线，并允许随机存取存储器上的任何区域，而且它可以忍受一万次到一百万次抹写循环，是早期的可移除式闪存储媒体的基础。NOR FLASH支持Execute On Chip，即程序可以直接在FLASH片内执行（这意味着存储在NOR FLASH上的程序不需要复制到RAM就可以直接运行）。因此，在嵌入式系统中，NOR FLASH很适合作为启动程序的存储介质。NOR FLASH的读取和RAM类似，只要能够提供数据的地址，数据总线就能够正确的给出数据。而对NOR FLASH的写操作需要遵循特定的命令序列，最终由芯片内部的控制单元完成写操作。

为了便于访问，从支持的最小访问单元来看，NOR FLASH一般分为8位的和16位的（也有很多NOR FLASH芯片同时支持8位模式和16位模式）具体的工作模式通过特定的管脚进行选择。……