忻睦迪，向彦娟，郑爱国，黄南贵

（中国石化石油化工科学研究院，北京100083）

钛硅分子筛晶胞参数计算方法研究

忻睦迪，向彦娟，郑爱国，黄南贵

（中国石化石油化工科学研究院，北京100083）

利用X射线衍射技术（XRD）对钛含量不同的系列钛硅分子筛（TS-1）的晶体结构进行研究。通过调节XRD测试的仪器参数，确定了最优试验条件，建立了利用Rietveld全谱拟合计算钛硅分子筛晶胞参数的方法。通过计算发现：原料中钛摩尔分数低于2.5%时制备的分子筛的晶胞参数随钛含量增加呈线性增加，推断分子筛制备时部分钛进入骨架；原料中钛摩尔分数为2.5%～8.0%时制备的分子筛的晶胞参数基本不变，推断制备时钛摩尔分数高出2.5%的部分不再进入分子筛骨架。

X射线衍射 Rietveld拟合 晶胞参数 TS-1

具有MFI结构的钛硅沸石分子筛（TS-1）于1983年首次由Taramasso等人［1］合成并报道，随后的结构解析证明了钛在沸石骨架结构中的有效插入［2］。该分子筛因兼有钛的氧化性和分子筛的择形作用，已应用于芳烃（苯酚及苯）的羟基化［3］、烯烃的环氧化［4］、饱和烃的氧化［5-6］、环己酮的氨氧化［7］等多个领域。对于TS-1分子筛的晶体结构、酸性、表面性质、孔结构、粒径分布等物化性质，研究人员已经利用不同的表征方法（NMR，Raman，UV，FT-IR，BET，TEM等）进行了研究［8-16］。其中，在晶体结构表征方面，以X射线衍射（XRD）最为有效［17-20］。TS-1分子筛中钛的存在形式可分为两种：骨架钛和非骨架钛。大量研究结果表明，分子筛骨架中四配位钛是选择氧化反应的活性中心，只有在分子筛骨架上的钛才具有催化氧化活性，因此，钛在分子筛中的存在形态和分布将直接影响到催化剂的反应活性和选择性。……