宋尚升

摘 要： 测试向量生成是集成电路测试的一个重要环节。在此从集成电路基本测试原理出发，介绍了一种ATE测试向量生成方法。通过建立器件模型和测试平台，在仿真验证后，按照ATE向量格式，直接生成ATE向量。以一种实际的双向总线驱动电路74ALVC164245为例，验证了此方法的可行性，并最终得到所需的向量文本。该方法具有较好的实用性，对进一步研究测试向量生成，也有一定的参考意义。

关键词： 集成电路测试； 自动测试设备； 测试向量； 向量生成

中图分类号： TN964?34 文献标识码： A 文章编号： 1004?373X（2014）06?0122?03

Analysis of IC test principle and vector generation method

集成电路测试（IC测试）主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开，保证产品的质量与可靠性。随着集成电路的飞速发展，其规模越来越大，对电路的质量与可靠性要求进一步提高，集成电路的测试方法也变得越来越困难。因此，研究和发展IC测试，有着重要的意义。而测试向量作为IC测试中的重要部分，研究其生成方法也日渐重要。

1 IC测试

1.1 IC测试原理

IC测试是指依据被测器件（DUT）特点和功能，给DUT提供测试激励（X），通过测量DUT输出响应（Y）与期望输出做比较，从而判断DUT是否符合格。图1所示为IC测试的基本原理模型。

根据器件类型，IC测试可以分为数字电路测试、模拟电路测试和混合电路测试。数字电路测试是IC测试的基础，除少数纯模拟IC如运算放大器、电压比较器、模拟开关等之外，现代电子系统中使用的大部分IC都包含有数字信号。

数字IC测试一般有直流测试、交流测试和功能测试。……