孟亚峰，韩荣利，潘　刚

(军械工程学院，河北石家庄　050003)

0　引言

加速寿命试验是解决高可靠性、长寿命产品量化评估的一个有效技术途径。电子产品在使用过程中不仅会受到各种环境应力水平的影响，且存在多种失效机理，要快速量化评估产品在实际工作环境的可靠性水平，就需对其进行加速寿命试验。针对综合应力加速寿命试验及竞争失效产品的加速寿命试验的一些问题，有大量学者对其进行分析研究，文献[1]等采用智能优化算法拟合的方法对Weibull分布下步进加速寿命试验的优化设计进行了研究，文献[2-3]对独立Weibull分布下竞争失效加速寿命试验统计方法及设计进行了研究，文献[4-5]等对综合应力加速寿命试验方案优化及模拟评价的理论与方法进行了研究，文献[6]对步降加速寿命试验的优化及寿命预测进行了分析研究，文献[7]等对综合应力加速寿命模型验证方法进行了分析研究。综合应力步降加速寿命试验作为一种更高效、更贴近产品实际工作环境的试验方法成为国内外的研究热点，但是，当前对竞争失效产品的综合应力步降加速寿命等方面的研究相对较少，对于多应力下的电子产品的试验优化问题，没有较为完善的理论支持，不能更好满足工程实际的需求。鉴于此，文中采用Monte-Carlo仿真的方法对竞争失效产品综合应力步降加速寿命试验进行模拟。对模拟产生的竞争失效产品综合应力步降加速寿命试验(CF-MSDS-ALT)数据进行统计分析，给出了基于仿真的竞争失效产品综合应力步降加速寿命试验优化设计的流程，并将目标函数值最小的试验方案作为最优方案。……