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石墨烯薄膜的生长及结构表征研究

2013-09-13蔡晓岚刘志涛王晓敏王永祯

太原理工大学学报 2013年3期
关键词:生长

蔡晓岚,刘志涛,王 菡,王晓敏,王永祯

(太原理工大学 材料科学与工程学院,太原030024)

石墨烯是一种碳原子构成的单原子层厚的二维膜材料,由英国曼彻斯特大学的Novoselov等[1]于2004年首先制备出来。石墨烯具有独特的电学性能,其内部的载流子浓度高达1013cm-2,室温下迁移率可以达到15 000cm2/(V·s)[2],同时还具有良好的柔韧性和透光性。这些优异的性能使其在显示器件、电子器件、光电器件等方面具有广阔的应用前景,并立即掀起了材料、物理、化学界的研究热潮[3]。自2008年首次在Ni[4]基底上生长出石墨烯以来,CVD法制备的石墨烯因其具有层数均一、结构完整、透光性好、易于转移、适合规模生产等诸多优点,而逐渐成为一种重要的制备方法。

目前对于低压条件下石墨烯的生长研究较多,对其生长机理也有了一定认识。德州大学奥斯汀分校的Li等[5]用Cu作为基底在66.661Pa的低压条件下,生长出了单层区域达到95%的石墨烯薄膜。Li等[6]利用碳的同位素研究了Cu、Ni基底上石墨烯的生长机理,结果表明:在Ni基底体系中,CH4分解形成的碳扩散进基体,分散固溶,冷却过程中再析出形成石墨烯;而在Cu基底体系中,CH4在基底的表面吸附、分解,然后生长出石墨烯。Regmi等[7]系统研究了低压条件下气体流量、温度、压强等参数变化对石墨烯生长及产物结构性能的影响,为低压制备参数的选择提供了依据。然而石墨烯的低压生长对反应条件的控制要求苛刻,且生长窗口较小,对设备要求高;所以石墨烯的CVD法制备还有待进一步改进。……

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