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低导通电阻MOSFET测试中的自动校验技术

2013-02-21顾汉玉廖远光

网络安全与数据管理 2013年5期
关键词:测量

顾汉玉,廖远光

(华润赛美科微电子(深圳)有限公司,广东 深圳 518116)

MOSFET (Metal-Oxide-SemiconductorField-Effect Transistor)是金属-氧化层-半导体场效晶体管的简称,中文简称MOS管,是一种典型的半导体功率器件。随着半导体技术的不断进步,MOS管性能提升明显,应用日益广泛。电源控制和电源转换是MOS管大量使用的一个重要领域,在这类应用中,MOS管通常作为开关使用,导通电阻是最为关键的参数之一,直接影响到应用电路的稳定性。因此,导通电阻的准确测量成为MOS测试的重点。

1 低导通电阻MOS管简介

MOS管按照栅极的功能可分为增强型和耗尽型,按照沟道的材料类型可分为P沟道或N沟道,两种组合起来共四种类型,一般主要应用的为增强型的NMOS管和增强型的PMOS管。与传统的晶体管相比,MOS管具有开关速度快、输入阻抗高、安全工作区大、热稳定性好等优点[1]。MOS管的主要参数有:

V(BR)DS:漏源极击穿电压;

RDS(on):MOS导通时漏源之间的电阻;

RDS(on)@ID:漏极工作电流为 ID时的漏源极导通电阻;

ID:最大漏极工作电流;

PD:最大漏极耗散功率。

半导体厂家设计了多种规格的MOS管满足各种不同的应用需求。漏源极击穿电压的范围从几伏到上千伏,最大漏极耗散功率从几瓦到几百瓦,导通电阻从几毫欧到数百欧,设计工程师可以选择合适的型号满足设计要求。

随着半导体工艺技术的不断发展,MOS管的性能不断提升,击穿电压越来越高,导通电阻越来越小,很多产品的导通电阻已经在毫欧的量级(称为低导通电阻MOS管),这对于产品应用非常有利,可以降低MOS管的功耗,实现更大的工作电流,也提高了电路的转换效率。……

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