基于ARM和NAND Flash的FPGA加载配置在TD-LTE中的实现*

2012-12-07董宏成

电子技术应用 2012年7期

董宏成，魏杨

(重庆邮电大学通信与信息工程学院，重庆 400065)

TD-LTE无线综合测试仪平台的主要功能是测试接收端与发射端信号的差异，即接收和发射端信号的误码率等性能的优劣，其物理层采用通用的FPGA+DSP+ARM硬件架构，具有开发周期短、可扩展性好等优点。

现场可编程门阵列FPGA是基于门阵列方式为用户提供可编程资源，其内部逻辑结构的形成是由配置数据决定的。由于SRAM的易失性，每次上电时，都必须对FPGA重新进行配置、完成下行链路OFDM信号以及底层交互相关信号的产生等功能。

对于FPGA配置，大多数是采用将配置数据存放在FPGA组成的系统上[1-2]或者将配置数据存放在使用者自己携带的外部存储器中的实现方式，后者在系统上电时需由其他外部控制器读出配置数据再传送给FPGA进行配置。本文提出在TD-LTE无线综合测试仪平台上，通过嵌入式微处理器ARM将配置数据存放于NAND Flash[3]中，由Flash上电启动读出配置数据再对FPGA进行配置。这种方法不但修改、升级简便，而且由于NAND Flash在写入数据时都需要先擦除再写入，所以具有很好的保密性[4]，并且可以方便地存储大容量配置数据或多个配置数据文件等。本文介绍了TD-LTE无线综合测试仪平台上电后自动加载对FPGA器件进行配置的设计与实现的新方法，对无线TD-LTE系统的底层控制实现具有重要意义。