张俊敏，尹 斌

（河海大学 能源与电气学院，江苏 南京 211100）

基于线阵CCD的尺寸测量研究

张俊敏，尹 斌

（河海大学 能源与电气学院，江苏 南京 211100）

在当今国内工业中对尺寸的测量大多还是采用千分尺等落后的接触式的方法，不但效率不高而且精确度不高。文中讨论了线阵CCD用于尺寸测量的非常有效的非接触检测技术。本测量系统是以89C2051、TCD1206UD和ICL7135等芯片构成的，完成了由照明、成像、数据处理到显示等过程。本设计具有稳定可靠、测量精度高等特点，适用于各种高灵敏、高精度的检测。此外，本系统包括了LED显示，不仅价格便宜，而且测量结果方便可见，增加了本设计的实用性。

TCD1206UD；89C2051；尺寸测量；驱动

电荷耦合器件 CCD（Charge Coupled Devices）是20世纪70年代初期发展起来的新型半导体集成光电器件，它具有灵敏度高、动态范围大、像素划分精度高等特点。CCD是以电荷作为信号，将可视范围内的景物通过感光敏元将光信号转变为电荷信号，然后经存储、传输和检测，输出视频信号，再显示出人眼能够看得见的图像[1]。CCD分为线阵CCD和面阵CCD，线阵CCD因其驱动简单，信号相对易于处理等特点广泛应用于工业领域中的尺寸和位移的测量，而面阵CCD则主要是应用于图形和文字的传输等。

本测量系统由89C2051控制TCD1206UD测量微尺寸，经过照明系统、信号转换、数据处理等过程，最后通过LED显示出来。具有稳定可靠、测量精度高等特点，适用于各种高灵敏、高精度的检测。

1 系统工作原理

系统原理如图1所示，此系统是以89C2051为核心，TCD1206UD，ICL7135等器件一起构成的。……