刘勇锋，姚竹亭，顾秀江，王洁，秦新红

（中北大学 机械工程与自动化学院，山西省太原市 030051）

0 引言

所谓存储器修复技术是指通过在存储器中预置的冗余存储单元，对出现故障的存储单元进行替换的方法。由于冗余单元的划分形式各不相同，可以把嵌入式存储器的修复策略分为3类：基于冗余字的修复、基于冗余列的修复和基于冗余行的修复。在文献中提出了对冗余列分段的软修复方法、二维冗余修复方法、基于冗余字的修复方法，以及同类型的冗余字作为冗余单元替换故障字等等很多方法，但是在实际的开发应用中发现这些设计方法都有各自的优点，但是这些优点都是在不同程度上牺牲了修复率、功耗，以及修复类型，所以针对上述各个问题，本文提出了改进的基于 DWL 修复策略（Divided Word-Line Structure，DWL），这种修复策略是任何冗余单元可以替代检测到的故障单元。

1 存储器内建自修复原理

任何一个完整的存储器内部都由两个部分构成其主要的系统——内建测试（BIST,Built-In Self-Test）和内建冗余分析（BIRA,Built-In Redundancy Analysis）两个部分，而这两部是在整个系统中，在不同的工作模式下工作：测试/修复模式和正常工作模式。当在测试/修复模式下，系统上电启动，BIST模块开始对等待测试的存储器进行测试，在检测到故障后，检测模块会把故障信号Fail给内建冗余模块发送，同时将故障地址送入BIRA模块，BIST模块暂停检测。BIRA模块接收到Fail信号后，对具体故障地址分析，对其地址判断是否已经保存在BIRA内部存储，如果未存储，则在BIRA内部存储器的最末端保留该地址，并进行冗余分配，修复完成之后启动BIST继续进行测试；……