王 克，李志敏，古利超，陈学保，靳佳伟

(重庆大学光电工程学院，重庆400030)

0 概述

电荷耦合器件(CCD)在测光法和比色法领域中的应用被认为是在未来光谱辐射线测定和光度测定中极具吸引力的发展方向。作为21世纪的绿色光源，LED大屏幕显示技术日益成熟，应用范围不断扩大。但由于LED间存在着光电学特性差异。这通常会引起LED显示屏尤其是全彩LED大屏幕亮度、色度不一致，进而破坏显示屏的白平衡，降低显示品质。此外，一旦LED显示屏投入使用，每个LED的亮度以不同的速度衰减。衰减速率随物理、电气和环境因素而异，但它是不可避免的。屏幕上的颜色逐渐出现像素级的颗粒现象(如白色往往向粉红色方向转变)。

目前LED显示系统的检测通常使用亮度计和色度计，传统的亮度计和色度计同一时间只能检测一个点，因而被称为点式光度计或点式色度计，其测量方法是将一个显示装置分成许多分离的测量点，针对每个测量点移动点式检测器进行单点测量。显然，对于LED大屏幕数以百万计的像素点，传统检测仪器及方法效率低下。而采用CCD面阵检测器单次测量的像素点数量可以非常大，在相同的时间内，其具有比其他方法测得更多的数据点的能力。测量时间上有了实质性的节省。因此，采用CCD面阵检测器的LED测量系统在显示系统设计和生产的实施与质量保证阶段具有巨大的优势。

本文基于图像形态学处理方法，讨论在复杂环境背景下，以及由于待测屏幕角度等原因造成投影到CCD上呈现的不规则大屏幕图像的LED像素点的定位。……