张明英

（西安外事学院 陕西 西安 710077）

晶体管测试仪应用广泛，功能因测量参数不同而不同，有的可以测量晶体管的放大系数、反向击穿电压、反向饱和电流、晶体管的输入输出特性曲线、延迟时间、晶体管开启时间、存贮时间等多种参数，有的只是测试晶体管的好坏，也有的数字万用表可以测晶体管的直流放大系数。当然这样的仪器要么功能强大，价格昂贵，要么功能太过于简单，测量参数单一。因此设计一台适用的测试仪具有重要的意义。

本课题研究晶体管的特性曲线，β值，漏电流及反向击穿电压等重要参数的测量。利用Matlab结合MCU和测量电路，在PC机上显示出晶体管的β值及漏电流，通过逐点法显示特性曲线。使用当前应用广泛的TL494芯片搭建升压电路，测试晶体管的反向击穿电压。

1 系统方案设计

整个晶体管参数测试系统主要由两部分电路组成：输出特性曲线测试电路和反向击穿电压测试电路。系统结构框图如图1所示。

1.1 输出特性曲线测试电路

如图1所示，本设计方案是以LM3S1138作为控制核心，这样可以实现高速的数据采样。通过MCU和D/A转换器以及放大器实现程控电流源和电压源。以两个通道输出至基极和集电极，作偏置电压Vb、Vc，将发射极接地，通过调整Vb和Vc就能进行任意工作状态时的参数测量。分别在基极和集电极上串联一个采样电阻，通过对取样电阻两端的电压进行采样，得到电压数据，通过对各管脚电压的分析，判断出E、B、C对应的管脚，并实现测量电路自动切换。……