李立，李晓潮

（重庆光电技术研究所，重庆 400060）

一种CCD工作寿命预计方法

李立，李晓潮

（重庆光电技术研究所，重庆 400060）

介绍了一种适用于电荷耦合器件 （CCD）的工作寿命预计方法。对CCD的失效模型进行了分析，并进行加速寿命试验，试验结果与理论分析结果较好地吻合。试验结果表明，对于一款成熟应用的CCD，其工作寿命值与其质量等级有直接的关系；质量等级越高的器件，其工作寿命值也越长。

电荷耦合器件；工作寿命；预计

0 引言

电子产品的寿命预计是在设计阶段，根据设计中所选用的电路程式、元器件、可靠性结构模式、工作环境、工作应力等统计数据，可以推测产品可能达到的寿命水平。

工作寿命预计作为一种设计工具，主要目的在于检查产品研制方案的合理性。预计可从可靠度、性能、重量、费用和研制周期等条件来选择最佳的设计方案，用于了解设计中的薄弱环节，有助于设计人员及时改进。

通过对工作寿命预计，设计人员可以推测产品能否达到规定的可靠性要求，并且寿命预计结果不仅用于指导设计，还可以为转阶段决策提供信息，为可靠性试验制定维修计划、保障性分析、安全性分析和生存性评价等提供信息，帮助提出和确定可靠性实施计划，并为可靠性指标的分配和可靠性保障设计提供依据。

对于电荷耦合器件 （CCD）来说，由于是半导体光电成像器件，相对于其它半导体器件来说，在考虑光电参数的同时，还对成像质量有严格的要求，如漏光、残像等[1]，而CCD的通用规范中只规定了2 000 h的稳态寿命试验[2]。……