蔡 静

(贵州民族学院 理学院，贵州 贵阳 550025)

对于大多数的军用电子产品，像导弹及航天器的备用部件等，从出厂到使用都要经过相当长时间的贮存.在贮存过程中，其可靠性会随时间而下降的，为保证此类产品随时可用，应对其进行定期检测.近年来，对定期检测的问题研究的文献较多，孙亮等考虑了定期检测的贮存可靠性模型[1]，张永进等考虑了具有初始失效的定期检测模型[2]，韩庆田等考虑了贮存可靠性预测模型[3]，但这些模型都忽略了检测对其可靠性的影响.在现场贮存分析中，尽管检测所需时间相对于贮存时间来讲是非常的较短，任一次检测对贮存可靠性的影响也非常小.但在其贮存周期中，多次检测及其累计的影响也是一个不可忽略的问题.本文给出一个考虑检测影响的贮存可靠性模型，并给出了其相应的参数估计方法.

1 贮存模型

处于贮存状态的产品，其正常工作与否，只有通过通电运行方可知道，暂且可靠性变化是由检测引起的.假定失效的产品在检测过程中均可被发现[4-6]，即称此过程为检测.假定产品检测所需时间是恒定的，记为x0.连续两次检测之间的时间间隔是恒定的，记为T.在检测所需的时间x0内，产品的可靠性仍然是下降的，并且其失效产品在检测过程中被发现的概率为1.

在一个检测周期T内，产品失效有两种可能的情况：在检测开始之前的时间区间T-x0内失效，或是在检测开始之前产品并没有发生失……