苏 安，陆 华，黄星寿

(河池学院 1.物理与电子工程系;2.计算机与信息科学系，广西 宜州 546300)

缺陷光学厚度对对称结构一维光子晶体透射谱的影响

苏 安1，陆 华1，黄星寿2

(河池学院 1.物理与电子工程系;2.计算机与信息科学系，广西 宜州 546300)

在A层为双正和双负介质情况下，用传输矩阵法理论研究缺陷层的光学厚度对对称结构一维光子晶体(AB)mC(BA)m透射谱的影响，结果发现:在无缺陷情况下，不论A层是双正还是双负介质，禁带中心均出现超窄频带单透射峰，具有传统对称结构光子晶体透射谱的特征;当中间插入光学厚度等于四分之一中心波长的双正缺陷C后，两者的单透射峰一分为二，且双负情况下两透射峰之间的距离较大;当缺陷C的光学厚度为二分之一中心波长时，双正情况下禁带中心出现单透射峰，双负情况下则出现三条透射峰;当缺陷C的光学厚度等于中心波长时，双正情况下出现三条透射峰，而双负情况下则出现五条透射峰。对称结构光子晶体的透射谱随缺陷光学厚度变化的规律，可用以设计可调性超窄带滤波器。

光子晶体;光学厚度;缺陷;透射谱

0 引言

光子晶体的概念是20世纪80年代末Yablonovitch和John提出的［1－2］，它的最根本特性是具有类似于电子半导体能带结构中的禁带──光子禁带，频率落在禁带中的光被禁止传播。其独特的光学特性和潜在的应用前景吸引着越来越多的人进行深入的研究。很多研究结果已经表明，光子晶体将在光滤波器、光学开关、光波导等光学器件的设计上发挥着重要的作用［3－6］。……