王华乔

（中北大学 仪器科学与动态测试教育部重点实验室，山西 太原 030051）

0 引言

随着科学技术的发展，无论在科学研究还是技术开发以及工程实践中越来越多的要求进行动态测量，对被测参数进行定量、深入的研究，探求动态过程中参数的变化规律[1]。在某型器件设计到定型的过程中，测试环节便显得必不可少，有助于快速定位故障原因，发现设计中的缺陷与不足。数据曲线使测试结果的分析更为形象、直观。

1 设计与实现

采用CPLD器件XCR3064XL为数字主控器，控制与协调整个测试系统的运行。整个系统分为系统电源模块、A/D模块、CPLD主控模块、存储模块、接口模块4部分，如图1所示。

图1 系统框图

1.1 A/D转换模块

按照设计要求，4个有效通道信号，4个系统编码通道，共有8个采样通道，单通道信号采样频率为50kHz。A/D采用分辨率为12bit、最高采样率可达1Mbps的AD7492可完全满足性能要求[2]。8个通道的总采样频率为400kHz，要求模拟开关的动作后的稳定时间参数必需远小于2.5μs。通道模拟开关MAX4634断开和导通的稳定时间的典型值分别为6ns和14ns，符合参数要求[3]，因此选用两片4通道模拟开关MAX4634作为1～8通道的切换。

1.2 信号处理模块

4个有效通道的输入信号规格为：

① 基线为5V，幅度0到10V的检波信号；

② 基线为15V的负脉冲信号；

③ 15V直流信号；

④ 幅度为±150V交流电压信号。

根据A/D和CPLD的输入参数限制[4]，必须将以上的4路信号的幅值进行转换，使其成为A/D和CPLD可以接收的的有效信号。检波信号衰减为原来的1/2，负脉冲信号衰减为原来的1/4，直流信号衰减为原来的1/4，交流电压信号衰减为原来的1/60，并通过电容隔直。……