张友兰，刘俊荣，赵晓林

(中国电子科学研究院，北京 100041)

0 引言

多功能、大型电子系统(含大型武器装备系统，以下统称:大型电子系统)的高速发展，注定了电子系统的体积庞大、技术复杂和功能模式多样化。但由于受到系统性能指标考核需求和试验设施不配套的双重约束，传统的可靠性试验方法已经解决不了大型电子系统的可靠性验证试验问题，面对这一挑战，需要采取新的对策，以新型的试验方法来取代传统的试验方法。通过对国内外可靠性试验方法的分析研究，拓展思路，突破传统的试验方法，提出一种新型的，既省时、省力又节省经费，更重要的是具有大型电子系统代表性的新型试验方法，这种方法就是紧缩系统试验方法。

紧缩系统是对大型电子系统中由多台(套)相同设备组成的冗余子系统，按照既定的抽样规则抽取其中的部分设备，再与大型电子系统中的非冗余子系统重新组合的系统，称作大型电子系统的紧缩系统(简称:紧缩系统);采用系统紧缩组合方法进行的试验称作紧缩系统试验方法(简称紧缩试验方法)。

紧缩试验方法的技术难点是解决相关性、试验参数有效性，继而解决试验结果的正确性问题。通过对大型电子系统的组成特点、抽样方法、性能、可靠性指标相关性分析和工程计算、在对传统试验方法剖析的基础上，突破了传统的试验方法，结合我国国情，提出紧缩系统试验方法。应用实例证明该试验方法能满足大型系统在不增加试验设施投入的条件下，保证系统可靠性指标、技术性能得到有效验证。……