裴峰，吴健，魏海潮，王珺楠

（中北大学 信息与通信工程学院，山西 太原，030051）

0 引言

存储测试是指在对被测对象无影响或在允许范围的条件下，在被测体内置入微型数据采集与存储测试仪，现场实时完成信息的快速采集与记忆，事后回收的记录仪器[1]。存储测试技术在载人航天测试、爆炸冲击波测试、炮弹膛压测试等诸多领域应都有广泛的应用[2]，目前大多数的存储测试系统都是由CPLD和单片机配合工作来实现，由于系统包含的器件较多这为系统的设计和调试带来了很大的难度，而且最终的系统在稳定性和可靠性都较差[3]。为了解决上述问题本文设计了一种基于单片FPGA的存储测试系统。为了实现整个系统由单片FPGA来控制，在FPGA内部运用有限状态机设计方法设计了一个针对FT245RL的数据传输控制器实现了过去由单片机和CPLD配合才能完成的功能。

1 硬件设计

1.1 基于FPGA的存储测试系统

图1给出了基于FPGA的存储测试系统总体结构图，本系统采用XILINX公司的XC4VSX25 FPGA作为系统核心控制单元、采用AD公司的AD7492作为系统模数转换器，采用三星公司的k9k2G8U0M FLASH作为系统数据存储介质（存储空间满足实际需要），采用FT245RL芯片作为系统板与上位机链接的通信接口芯片[4-5]。

系统的总体工作流程为：传感器输出的模拟信号经过调理电路调整到AD可采范围后AD转换器对其进行转换，FPGA提供AD转换的时钟，在一次模数转换周期内，AD转换的12位的数据分高6位和低6位存储到FPGA内部的FIFO中，最后在FPGA的控制下将FIFO中的数据存入FLASH。……