马佰振，原晓洁，范锦彪

（中北大学 仪器科学与动态测试教育部重点实验室，山西 太原 030051）

0 引言

存储测试是指在对被测对象无影响或影响在允许范围之内的前提下，通过使用微型数据采集存储记录仪在被测信号处，实时实况完成信息的快速采集与记录，事后通过回收记录仪，由上位机处理和再现测试信息的一种测试技术。存储测试的主要技术特点是现场实时采集记录，事后回收记录仪器，通过处理将被测信息再现。

1 系统总体工作原理

4通道存储测试系统的原理框图如图1所示，4个通道的信号经信号选择器选择后，在CPLD的控制下经信号选择器轮流输入A/D转换器，经A/D转换后存入铁电存储器。系统对4个通道的信号轮流采样，依次存入存储器。CPLD控制着整个系统工作时序、触发通道、触发电平、采样点数等。采样结束后通过读数设备由上位机软件将数据读取到计算机存储、显示和处理。

图1 系统原理框图

2 系统硬件设计

整个系统以CPLD芯片XCR3064为中心控制器进行设计，系统采用LP5996作为电源管理芯片，A/D转换器选用AD7492，存储器选用FM22L16，通道选择器选用MAX4634。系统硬件电路原理图如图2所示。

2.1 电源管理和信号选择器电路设计

本测试系统采用了一款线性低压差电源管理芯片LP5996,其工作状态表如表1所示。

表1 LP5996工作状态表

如图2中所示，电源管理芯片LP5996的电源引脚接电池电压VCC，使能端EN1和EN2分别控制输出VOUT1和VOUT2，用来提供数字电源（VDD）、模拟电源（VEE）。其中EN1由上拉电阻置为“高”，使VDD始终输出3.3V电压，EN2的高低由CPLD控制，进而控制VEE的输出。……