郭秀才，冯伟泉，郑会明，杨力坡，李树鹏，马腾飞

（北京卫星环境工程研究所 可靠性与环境工程技术重点实验室，北京100094）

0 引言

近年来，国外广泛采用高加速寿命试验（HALT）来提高产品的固有可靠性，实际上，这是一种向产品施加超过其设计规范规定的应力的一种过应力试验。它在发现产品设计缺陷方面，可以从传统试验的几周或几个月缩短至几天甚至几小时[1]，能够暴露产品在该应力下的几乎所有故障，从而大大缩短研制周期、生产周期并降低成本。

目前，国内航天系统还没有在产品研制上开展HALT。传统的试验方法由于时间长、费用高、效果差等问题，已无法满足卫星研制的要求，因此，HALT是可靠性试验发展的必然趋势，是提高卫星组件质量和可靠性的有效手段。

本文阐述了HALT的基本内容，在卫星典型电子组件上进行了试验研究，并得到如何在卫星组件上实施HALT的方法。

1 温度高加速寿命试验的原理

外界应力作用下，产品内部缺陷处所产生的应力比完好处的应力大得多且集中，可迅速累积起疲劳损伤，使缺陷扩展，并能方便地检测出来，而完好部分则基本不受影响[2]。通常，电子组件的热失效机理主要是元器件在高温下性能退化或损坏，是温度交变导致热疲劳，热应力和热疲劳造成了元器件的物理损伤。

根据基本加速模型——米勒（Miner）模型，热膨胀导致的机械应力强度与循环次数有关。以温度变化速率和循环次数（筛选总时间）的关系为例，当温度变化速率为5 /min℃时，需循环440次；……