一种新的舰船电子设备失效分布的探讨
2010-06-07刘会李蕾
中国舰船研究 2010年3期
刘 会 李 蕾
中国舰船研究设计中心,湖北武汉 430064
一种新的舰船电子设备失效分布的探讨
刘 会 李 蕾
中国舰船研究设计中心,湖北武汉 430064
随着现代舰船电子技术的发展设备技术性能和结构要求提高,可靠性问题愈显突出。根据电子设备的现实使用情况,在其寿命方差线性变化的假设下,推导一种新的电子设备失效分布;进一步研究该分布密度函数中的参数特性,以及在完整数据情况下参数的负指数矩估计;推导新失效分布下电子设备的可靠性指标。实证分析表明选取的该电子设备失效率随时间的增长而增大,故符合推导的新分布的情况,分析结果与实际情况基本符合,说明推导的新分布及相应的密度函数性质、参数估计方法以及可靠性指数的计算等是切实可行的。
可靠性;新失效分布;负指数矩;估计
1 引 言
随着电子技术的发展,现代舰船对电子设备也提出了更高的要求。由于设备技术性能和结构要求等方面的提高,可靠性问题愈显突出。如果没有可靠性保证,高性能指标是没有任何意义的,特别对现代军舰来说,可靠性就是战斗力,就是生命,关系到战争的胜负。从部件、元器件的角度来讲,电子元器件的可靠性水平决定了设备的可靠性程度。从军舰的设计建造来讲,可靠性贯穿于设计、生产、管理中[1~3]。
合理分析和评价电子设备的可靠性,科学合理地认识电子设备失效情况,对于通信导航、敌我识别等系统的可靠性有重大意义。……
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