林晓会，解维坤，宋国栋

（中国电子科技集团公司第五十八研究所，江苏 无锡 214035）

现场可编程门阵列（Field Programmable Gate Array,FPGA）被广泛应用于汽车电子、人工智能、网络通信等诸多领域，其复杂的可编程特性几乎成为“万能”芯片[1⁃3]。由于FPGA 内部可编程资源复杂，仅仅依靠可测性设计手段难以实现100%资源覆盖测试，因此，还需结合与应用无关的功能测试保证覆盖率[4⁃6]。

查找表（Look Up Table,LUT）作为FPGA 最重要的资源，能够实现极其复杂的存储和逻辑功能。针对LUT的覆盖率测试，文献[7]提出了以划分阵列的方式实现LUT 测试，需要4 次即可完成100%覆盖率测试，但划分和约束过程较为复杂繁琐；文献[8]提出一种基于异或门级联的LUT 测试方法，并通过穷举LUT 的输入完成覆盖率测试，但需要较多配置次数和复杂的穷举输入。文献[9⁃11]巧妙地提出一种基于内建自测试（Built⁃In⁃Self⁃Test,BIST）的资源覆盖测试方法，通过在FPGA 内部构建BIST 电路实现被测模块的覆盖测试，但未深入研究基于BIST 的LUT 测试方法，且其提出的BIST 测试方案有待进一步完善和改进。因此，本文重点研究基于BIST 的LUT 测试方法。

1 BIST 的LUT 测试方案

1.1 典型BIST 结构

典型的BIST[12⁃15]结构由测试图形生成器（Test Pattern Generation,TPG）、被测模块（Block Under Test,BUT）和输出响应分析器（Output Response Analyzer,ORA）三部分组成，如图1 所示。其中：TPG 用于产生测试向量，为BUT 提供测试图形输入，如计数器、线性移位寄存器等均能提供顺序或伪随机的测试图形；ORA用于分析比较BUT 的输出是否正常，如多输入移位寄存器、奇偶校验器等。

图1 典型的BIST 测试结构

1.2 可配置逻辑块中的查找表

以AMD 公司的Ultrascale+系列FPGA XCKU5 PFFVB676I 为例，每个可配置逻辑块（CLB）内包含8 个查找表（LUT），该型号FPGA 全部资源共含有216 960 个LUT，每个LUT 包含6 个输入、2 个输出的逻辑函数发生器，可实现任意1～6 变量输入、1～2 输出的逻辑表达式。基于FPGA 实现的众多功能中，几乎没有不涉及使用LUT 模块的，因此，为保证用户在使用FPGA 内部LUT资源时的高稳定性和高可靠性，针对FPGA 中LUT 的覆盖率测试至关重要。Ultrascale+系列FPGA 内部LUT 结构如图2 所示。

图2 Ultrascale+系列FPGA内部LUT 结构

1.3 新型BIST 结构

本文提出一种新型BIST 结构，用于测试FPGA 内部的LUT 资源覆盖率。该结构主要由测试图形生成器、被测模块、黄金模块（Golden Block,GB）、比较模块（Comparator Block,CB）四个部分组成，测试结构如图3所示。其中，黄金模块与被测模块同结构、同功能，其测试原理为：通过TPG 产生测试向量，同时输出到被测模块和黄金模块，利用比较模块对比BUT 和GB 的输出，如果两者输出一致，则证明被测模块功能正常，反之功能异常。

图3 新型BIST 测试结构

1.4 新型BIST 的LUT 测试方案

新型BIST 的结构在用于LUT 覆盖率测试时，TPG为改进的线性反馈移位寄存器（Linear Feedback Shift Register,LFSR），用于全地址的伪随机测试向量生成，作为BUT 和GB 的输入；BUT 为6 输入、1 输出异或功能的LUT，GB 同样为6 输入、1 输出异或功能的LUT；CB 为2 输入、1 输出的比较器，用于比较BUT 和CB 的LUT 输出，如果两者的异或功能输出结果一致，则判定被测的LUT 模块功能正常，否则功能异常。LUT 测试结构如图4 所示。

图4 新型BIST 的LUT 测试结构

在实际测试时，利用pBlock 功能，将FPGA 内部的LUT 资源分为上下两部分。第一次测试设计时，其中一部分用于TPG、GB 和CB 模块资源的例化，另一部分用于BUT 资源例化；第二次测试设计将两部分位置调换。这样，通过两次测试配置，即可完成所有LUT 的覆盖测试。经pBlock 约束后，一次布局布线后的LUT 测试图形如图5 所示。

图5 布局布线后的LUT 测试图形

2 测试硬件设计

自动测试设备（Automatic Test Equipment,ATE）作为LUT 覆盖率的测试验证平台，具备电源供应、任意波形发生、系统时钟、精密测量单元（包括加压测流、加流测压等）、向量存储等多种功能，因此无需外接其他测试测量设备即可完成验证评价和量产测试。测试硬件的设计主要针对ATE 的测试负载板。

XCKU5PFFVB676I 为一款亿门级FPGA，具有丰富的逻辑资源和各类IP 核，支持多种配置方式，包括但不限于Slave SelectMAP、JTAG 等，同时电源的种类也较多，设计时重点包括测试配置通道和电源供电，如图6所示为测试负载板设计方案。

图6 FPGA 测试负载板设计方案

图中：pogo pin 为ATE 与测试负载板通信连接的桥梁，为被测FPGA提供输入信号和接收输出信号；power B为被测FPGA 的内核电源VCCINT 提供大电流电源，保证FPGA 配置时的瞬态脉冲大电流满足启动要求；power S 为被测FPGA 的其他电源供电。

JTAG 接口主要用于实装测试时的配置比特流下载，通过TDI 一位一位地将比特数据加载到FPGA 的配置存储器中，下载速度较慢。在实际ATE 量产测试中，通过pogo pin，基于Slave SelectMAP 方式完成测试配置，这种方式将待配置的测试向量先存储到ATE 的向量存储模块，测试时直接调用所需的向量名称即可，可同时并行下载32 位比特数据并加载到FPGA 内，配置速率大幅提升，适用于大规模的量产测试需求。

3 仿真与测试验证

3.1 改进的LFSR 与仿真

传统的测试向量发生器一般用LFSR 实现，产生的向量具备一定的伪随机性，但无法遍历全0 地址。改进的LFSR 在原有的基础上进行优化，不仅具备伪随机，而且能够覆盖到全0 地址，其结构如图7 所示。

图7 改进的LFSR 结构

经编写Verilog 代码，通过Vivado 2018.3 编译仿真环境得到改进的LFSR 时序仿真结果，如图8 所示。其中：clk 为输入时钟；rst_n 为复位信号；lfsr_dout 为产生的全地址向量。

图8 改进的LSFR 仿真结果

3.2 新型BIST 的LUT 测试仿真

在BIST 电路结构中，改进的LFSR 产生全地址的伪随机测试向量，同时输出到被测模块LUT 和黄金模块LUT，通过比较两者输出否是一致，判断被测LUT 是否存在故障。其中，LUT 是基于Xilinx 原理实现6 输入、1 输出的异或门。测试仿真结果如图9 所示。图中，error 为输出判断结果，除复位状态时error 输出为高电平外，其他状态若输出高电平，则判定被测LUT 存在故障；反之说明被测LUT 功能正常，无故障。

图9 新型BIST 的LUT 测试仿真结果

3.3 测试配置与验证

经过Vivado 软件编译综合生成比特流，利用Slave SelectMAP 模式，基于ATE 将比特流配置向量下载到FPGA 内，并施加相应的响应测试激励，完成FPGA 内LUT 资源覆盖率测试。配置通信原理如图10 所示[16]。

图10 基于Slave SelectMAP 配置原理

图中：M[2:0]为模式选择输入，M[2:0]=3’b110 表示选择Slave SelectMAP 模式；DATA[31:00]为比特流数据，配置的比特文件通过该端口下载至FPGA；CCLK 为专用配置时钟；PROGRAM_B 为专用配置信号，拉低时表示清除配置和初始化；RDWR_B 和CSI_B 均为专用配置信号，RDWR_B 拉低表示测试系统向FPGA 写数据，CSI_B 拉低表示激活Slave SelectMAP 模式；INIT_B 为配置过程指示信号，当PROGRAM_B 拉低清除配置时，INIT_B 输出为低，配置数据开始到结束，INIT_B 一直输出为高；DONE 为配置完成指示信号，当配置数据全部加载完毕，等待几个时钟周期后，DONE 输出高即表示配置完成。此时，测试系统与FPGA 完成握手通信，FPGA 被配置成特定功能的ASIC。

测试系统中，LUT 测试的比特流配置向量和功能向量如图11 和图12 所示。图中，CCLK 和clk 信号为归零码格式，一直发送时钟信号，其他信号均为非归零码格式。比特流配置向量是将FPGA 配置成特定功能，功能向量是完成特定功能验证，测试中rst_n 只有在复位状态时，error 才输出高电平。如图13 所示，实际测试结果与仿真结果完全一致。

图11 比特流配置向量

图12 功能向量

图13 基于BIST 的LUT 测试验证结果

3.4 LUT 的故障注入与诊断

为了进一步验证测试方案的准确性和可靠性，设计一种模拟单粒子翻转的故障注入电路[17⁃18]，其结构如图14 所示。

图14 LUT 的故障注入电路

图中的LFSR[5:1]为线性反馈移位寄存器的输出，FIS 为故障注入使能。故障注入的原理为：通过在LUT的任意输入，如I0 端口增加一个故障注入电路，如果使能FIS，则I0 的输入为LFSR[0]输出值取反，实现故障注入；如果不使能FIS，则I0 的输入即为LFSR[0]正常输出值。利用这种方式可以有效地控制故障注入的执行与否，最后基于BIST 测试电路，验证测试方法的准确性。

仿真及验证结果如图15、图16 所示。图中：起始阶段rst_n 复位时，error 输出高；rst_n 拉高后，生成的伪随机测试向量输出到被测LUT 和黄金模块的LUT 中。从图中可以明显看出，当FIS=0 时，被测LUT 未注入故障，功能与黄金模块功能一致，error 输出为低；当FIS=1 时，被测LUT 故障注入成功，功能与黄金模块功能不一致，error 输出为高。同样，经ATE 的测试验证，测试结果与仿真结果一致。

图15 LUT 故障注入及诊断仿真结果

图16 LUT 故障注入及诊断验证结果

综上所述，从仿真到验证，证明了所设计的新型BIST 测试电路对LUT 功能检测的实用性和准确性。

4 结论

本文应用新型BIST 电路完成了FPGA 内部LUT 资源的可测性设计，通过2 次配置设计就能实现LUT 的100%覆盖测试，并基于Xilinx 的一款亿门级FPGA 完成了测试验证。结果表明新型BIST 电路具有良好的测试效益。本文创造性地提出了黄金模块比对思想，只需构造出与被测模块等同的电路，对两者输出进行比较判断即可。此外，优化改进的LFSR 电路结构能够输出全地址的伪随机测试向量，保证了被测LUT 测试图形的全覆盖。相较于其他文献的BIST 可测性设计思路，本文提出的测试方法具有更好的移植性和操作性，可推广应用于FPGA 其他资源的覆盖率测试。