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浅析STUB对高速连接器的影响

2022-05-06惠,王

机电元件 2022年2期
关键词:插入损耗鱼眼损耗

陈 惠,王 超

(四川华丰科技股份有限公司,四川绵阳,621001)

1 引言

随着5G技术的日益发展,通讯设备不断升级换代,信号传输速率不断上升,系统链路信号完整性要求进一步提高;高速连接器作为系统链路至关重要的一环,连接器的性能要求也是越来越严苛,作为连接器厂商,如何保证产品设计及加工性能,是很大的挑战。

高速连接器经常会遇到很多问题,由于结构复杂,往往对连接器的阻抗、插损、回损、串扰等优化难度更大,本文通过理论及仿真手段讲述了高速信号中stub对连接器信号完整性的影响。

2 STUB的产生原因

STUB为英文单词,释意残余部分,残桩等,对于连接器来说,STUB就是多余部分,对信号完整性有害无益。但是,stub在连接器结构上非常常见,下面我们列举高速连接器中典型的STUB结构。

2.1 对插类

带金手指类插头,如SFP,QSFP;高速背板连接器,高速BTB连接器,对插后在公端及母端对插面产生STUB,如图1所示。

图1 SFP连接器对插界面

从SFP高速连接器的对插界面可以看出,PCB的金手指和座子的端子头部都存在残余部分,而这两个部分无法消除,端子的STUB与水平方向呈一定夹角,这是因为对插前端子会被PCB撑开,如图2,这是为了保证端子可靠接触,需要一定的保持力,头部STUB起导向作用,以保证PCB顺利插入;而金手指头部STUB的存在,主要是因为产品本身互配时存在公差,需要预留足够的长度去保证在极限情况下对插后仍能可靠接触。所以这两个STUB因为涉及到可靠性问题,是必然存在的。

图2 SFP连接器对插前示意图

2.2 带鱼眼类

部分高速连接器需要和背板连接,常用是带鱼眼的高速背板连接器,而鱼眼与PCB过孔对插后,会存在STUB,如图3。

对于压接到PCB上的鱼眼,鱼眼接触区是压接后的有效接触位置,而鱼眼头部则是多余的STUB,在鱼眼对插时,该部分起导向作用,保证鱼眼顺利对插。过孔则存在两段STUB,如图中STUB1和STUB2,其中过孔STUB2可以通过背钻工艺去除,按目前工艺能力,可以保证背钻后STUB小于10mil,所以对于重要的高速信号,鱼眼对插过孔需要打背钻。

图3 鱼眼过孔压接示意图

3 STUB对信号完整性的影响

3.1 STUB对阻抗的影响

STUB对于阻抗的影响比较显著,当链路中存在STUB,这一段STUB类似于电阻的并联,我们知道电阻并联阻值将会减小,阻抗也是相同特性,STUB会降低阻抗值,STUB越长,体积越大,阻抗将会越低。

我们建立两个不同长度的STUB模型,如下图4所示。从图中,我们可以看出模拟阻抗的变化趋势。

图4 不同STUB模型

其阻抗仿真结果如图5所示。

图5 阻抗仿真结果

我们建立的模型为单端走线,两侧带伴随地,其中接触位置有两段STUB;在仿真验证中其中一段不变(case1),将另一端STUB由原来的2mm加长到3mm(case2),观察其阻抗变化值,由仿真结果可以看出,随着STUB的加长,接触点阻抗由原来的46Ω下降到42Ω,所以增加STUB长度,阻抗会降低。

3.2 STUB对回波损耗的影响

STUB在影响阻抗的同时,也会导致回波损耗恶化。信号传输分为有效路径和无效路径,有效路径是我们期望的传输路径,但实际上,遇到STUB信号会分流朝STUB传输。当然回波损耗的产生与阻抗也息息相关,阻抗不连续将造成反射,对于走线来说,我们可以通过调整线宽、线距、介质等调整阻抗值,从而降低回波损耗,但是对于STUB而言,其尾部为开路,信号到尾部后无法继续向前传输将会发生全反射,遇阻抗不连续处会再次反射,这样周而复始震荡,直到完全损耗掉,如下图6,这对信号传输非常不利,理论上STUB产生的回波损耗无法规避,只能通过减小STUB来优化。

图6 两种不同的串扰模型

我们继续阻抗的验证,不同STUB的情况下,我们对比了仿真后的回波损耗,如下图7所示。

图7 回波损耗对比

从仿真结果看出,STUB较长的case2回损明显恶化,所以STUB在我们设计中应该尽量短,这样可以有效减小反射,降低回波损耗。当然,我们实例中case2阻抗较差,我们可以通过匹配阻抗进一步降低回避损耗,但是从图5阻抗可以看出,阻抗匹配的难度已将非常大了,能降低一点回损也是好的。

3.3 STUB对插入损耗的影响

对于插入损耗来说,STUB同样会有非常大的影响;这个我们可以从插入损耗的公式来理解,插入损耗是指输出端口的输出,其计算公式如下:

IL=-20log(Uo/Ui)

式中:

Uo-输出信号;

Ui-输入信号。

从公式可以看出,插入损耗是评估接受信号的多少,接受到信号越多,插入损耗计算值越大,即通道的损耗越小。

所以回波损耗中讲到STUB会增大回波损耗,信号反射多了自然终端接受就会变少,所以结论是STUB会使插入损耗恶化,我们同样使用图4中的case1和case2模型对比,导出插入损耗值,如下图8所示。

图8 插入损耗对比

从图8中,不难看出,STUB较长的case2插损明显恶化,而且插损的谐振点由原来的40GHz提前到28GHz,谐振对于信号传输来说是致命的,直接影响系统的传输速率,所以不难看出,降低STUB对产品信号速率提升具有非常重要的意义。

3.4 STUB对串扰的影响

影响串扰的因素很多,串扰的产生是由于感性耦合和容性耦合,产生耦合主要是信号与信号,信号与回流地之间,耦合为串扰产生提供有效路径。

而根据STUB的结构形态,同样存在耦合作用,因为STUB和主路径的结构一般都是相同,所以理论上产生的耦合形式也是相同的,所以STUB不会对串扰产生明显的影响。

我们在HFSS中建立仿真模型,如下图9所示。两根单端信号两侧都带伴随地,建立STUB长度不同的P1为2mm,P2为3mm,P3为7mm,对比其串扰影响。

其串扰仿真结果如图10所示。

从仿真结果可以看出,串扰基本上变化很小,特别是40GHz以内;因为该验证只加长的STUB,当STUB越长,阻抗会很低,这样会增大反射,反射增大会导致串扰变差,所以在高频段会产生一定的差异,所以如果变相论证,STUB也会对串扰造成一定的影响。

图9 串扰仿真模型

4 结束语

我们在高速连接器设计中,STUB是很常见的结构,很容易被设计时忽略;对于目前高速连接速率不断更新换代,在设计中对STUB结构也应该引起重视,在减小STUB的同时,我们也应该保证可靠性,随着高速连接器不断发展,未来设计的产品朝着无STUB方向迈进也未可知。

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