张 璐，张 磊，付志凯，田 亚

红外探测器集成光学系统低温评价方法研究

张 璐，张 磊，付志凯，田 亚

（华北光电技术研究所，北京 100015）

红外探测器集成光学技术是将部分成像光学系统集成在杜瓦结构内部，以保证F数较小、探测目标信号能量大的同时，消除光学系统体积庞大和复杂带来的不便因素。本文研究的红外探测器集成光学低温评价技术是在不反复拆除杜瓦的前提下，直接评估集成光学系统低温MTF，缩短测试周期。进行集成光学透镜组精密装配，在此基础上开发独立的集成光学系统低温MTF评价装置，并搭建MTF测试光路，获得集成光学透镜组温度分布梯度，为集成光学透镜组的装配精度和光学性能提供可靠数据。

集成光学；光学透镜组；低温MTF测试

0 引言

红外探测器集成光学技术，是将红外光学系统设计与杜瓦光学设计相结合，通过精密装调技术，将光学镜头集成在杜瓦内部，使之处于恒定的低温环境中。在不增加探测器组件体积的情况下，实现光学系统的低温化、无热化和小型化，有效提高红外成像系统的探测精度、灵敏度和对环境温度变化的适应能力。在基础技术研究、国防战略地位以及社会应用需求方面，将产生良好的社会效益和经济效益。

2010年法国Sofradir公司与法国国家航空航天研究院共同设计一款采用集成光学元件的新型红外探测器[1]，该设计以Sofradir公司标准型640×512 15mm像元间距的红外探测器为基础，在红外探测器旁边置入一块光学透镜，可以对红外探测器工作和性能参数进行控制，从而将红外成像系统中使用的光学元件和电子元件减少1/3左右。……