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LDI造成的孔无铜分析与改善

2021-12-08许校彬

印制电路信息 2021年11期
关键词:设备分析

许校彬 樊 佳

(特创电子科技股份有限公司,广东 惠州 516369)

0 前言

印制电路板(PCB)产业在全球电子产品制造供应链中占据重要的地位。PCB几乎是所有电子系统核心的部件之一,可作为不同器件(如集成线路、电阻、电容、电感等)的载体,故被称为“电子产品之母”。随着通讯电子设备向轻薄化、多功能化、便携化发展,PCB的集成化程度也越来越高,PCB板面布线越来越密,通孔的孔径越来越小、厚径比越来越大,即厚径比越来越高,这不仅对钻孔工艺和设备提出了更高的要求,也对与导通相关的其他工艺如沉铜、线路、电镀等亦提出了更高的要求。倘若金属化孔出现了局部破洞、环状孔破、孔壁分离、整孔无铜等现象时,导致电路板存在严重的功能性故障造成报废,给企业造成巨大的损失。

1 原因分析

我公司近期出现批量性孔无铜报废,经过大量切片研磨分析,此次孔无铜缺陷如图1所示,主要体现如下。

图1 孔口环状无铜缺陷

(1)存在于孔环位置及孔内近孔口的位置;

(2)孔破主要呈现为环状,且具有规律的区域性;

(3)主要集中在某一面;

(4)明显的干膜阻镀,确认是干膜入孔缺陷导致孔无铜;

(5)0.4 mm的孔出现无铜,平行位置的1.2 mm的孔同样存在无铜现象。

根据所有的信息收集,我们可以分析出,该项无铜主要是由于图形转移中的干膜阻镀,造成的孔环无铜。通过生产型号我们查出所用设备为激光直接成像(LDI:Laser Direct Imaging),因此排除了底片原因所导致的漏光问题。为此我们进行下一步具体原因查找及实验证明。……

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