吕 瑛，王振宇，赵 岩，张会平，陈 娟

(1.北京遥感设备研究所，北京 100854; 2.北京控制与电子技术研究所，北京 100038;3.国营长虹机械厂，广西 桂林 541002; 4.北京航空航天大学 机械工程及自动化学院，北京 100191)

0 引言

本文以KBKu0583型大功率开关为例对电子元器件的加速贮存试验[1-3]结果进行了研究，并给出了寿命评估方法。前期采用步降应力法对大功率开关开展了加速贮存试验，依据产品规范和贮存故障模式及影响分析，确定了将插损指标作为主要的监测参数。试验中对插损性能指标进行了监测，对监测数据进行分析表明，大功率开关插损随着加速贮存试验时间变长，逐渐变大，有递增的变化趋势，因此将插损作为表征产品贮存期的指标。

通过上述加速贮存试验得到的是产品测试数据，还需要进行数据处理及评估得出加速因子、激活能以及产品的可靠性寿命。本项目采用退化轨迹法对产品的测试数据进行回归分析，得出多个伪寿命，进而估计出寿命分布参数，从而得出最终的加速因子、激活能以及产品的可靠性寿命等评估结果，达到了预期效果。

1 加速贮存试验简介

加速贮存试验是在不改变失效机理的条件下加大应力进行的贮存试验。它选择比正常使用环境恶劣的应力量级来加速产品失效缩短试验时间，在获得的失效数据基础上运用加速寿命试验模型对产品在正常应力量级下的各种寿命特征进行统计推断。加速退化试验是在不改变失效机理的条件下施加超过使用环境的应力加速产品的性能退化，得到高应力量级下的产品性能退化趋势，在此基础上运用加速退化模型对产品在正常应力量级下的各种寿命特征进行统计推断。……