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热熔断体保持温度环境试验方法探讨

2021-11-18庄伟玮孔睿迅

日用电器 2021年10期

张 驰 庄伟玮 孔睿迅

(1.威凯检测技术有限公司 广州 510663;2.广东中创智家科学研究有限公司 广州 510663;3.广东省电热组件工程中心 广州 510663)

引言

保持温度是体现热熔断体性能差别的一项重要测试。它模拟实际工作状态,可以反映产品是否能够稳定工作。

GB/T 9816.1-2013《热熔断体的要求和应用导则》中关于保持温度Th的测试方法规定为:

“将试样封闭在试验箱内通以额定电流,施加的电压应不超过额定电压,试验的温度应保持在Th范围内,历时7 d(168 h)或制造商声明的更长的时间。

试验结束时,试样应不改变其导电状态,且无本部分含义上的损坏。”

对于条款中热熔断体放置的“温度”的测量方法,存在着不同的观点:

观点一:把测试环境的温度调节为制造商声明的保持温度,然后将待测的热熔断体放置在此温度下,通以规定的负载后开始计时。

观点二:待测的热熔断体通以规定的负载后,调节环境温度,使待测的热熔断体表面温度处于制造商声明的保持温度,然后开始计时。

这两种观点在实际的操作中,会建立出不同的测试环境,从而影响测试结果。本文就此进行分析。

1 两种观点的主要差异对比

两种观点最主要的差异是试验温度的选取方式。

假设在理想的状态条件下,试验的环境温度与热熔断体表面的温度是相同的。在这种情况下,两种观点的试验条件是一致的。

热熔断体载流部件自身及不同部件衔接处都会有内阻。带电部件只要带有电阻,就会产生焦耳热。……

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