用于低频段天线测量锥形暗室的设计及实现
2021-11-05杨旭娟李自强黄亮蒋艳军
电子技术与软件工程 2021年17期
杨旭娟 李自强 黄亮 蒋艳军
(1.航天长屏科技有限公司南京分公司 江苏省南京市 211000 2.南京南大波平电子信息有限公司 江苏省南京市 211000)
(3.南京航天波平电子科技有限公司 江苏省南京市 210043)
1 引言
在天线设计和制造时,通常需测量许多参数,如:天线辐射方向图、增益、阻抗或极化特性。通常采用远场测试技术,待测天线安装在发射天线的远场范围内,其它测试技术包括近场和紧缩场等测试,一般按最关注的待测天线参数和性价比来选用何种天线测试场。考虑到外界环境的电磁干扰和天气影响,主要采用屏蔽暗室进行室内测量。目前对天线参数测量的暗室形状以矩形为主。暗室的结构尺寸是根据被测物用途、被测区域大小、频率范围、测试距离等因素来确定。通常工作频率在1GHz 以上的暗室采用矩形暗室结构,矩形暗室可以较好的模拟自由空间的电磁波传输特性,工作频段宽,具有较好的静区性能,使用灵活方便,是较为成熟的产品。但在低频天线参数测试时(目前雷达天线应用低频已下探至100MHz),暗室体积较大,使用的吸波材料高度高,造价昂贵。
2 天线远场测量
设计天线测试暗室需要考虑的因素:测试频率范围、测量精度、口径大小、天线的主瓣与副瓣的差值、可建设暗室的空间尺寸、屏蔽需求及测试方法的选择。
2.1 远场测试条件
无论是矩形暗室还是锥形暗室远场测试设计时都需要满足远场测试条件:

式(1)中D 为被测天线口径最大值;R 为测试距离;……
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