魏彦江，周祎，杨光，敬小东，官朝晖，雷鸣

（中国电子科技集团公司第二十九研究所，成都 610036）

星载无源微波器件是航天器有效载荷系统的重要组成部分，包括隔离器、环形器、微波开关、滤波器、多工器等多种类型。随着航天器在轨使用寿命要求越来越长，无源微波器件高可靠、长寿命指标也越来越高。目前，高、中轨卫星要求无源微波器件寿命至少在10 a以上[1]。高可靠性是设计出来的，但怎样验证产品的可靠性和长寿命也非常重要。一方面，星载器件产品的样本数量比较少；另一方面，产品价格比较昂贵。如何在短时间、小样品数下来验证产品能够满足在轨10 a以上长寿命具有重要工程意义，因此开展加速寿命试验研究工作势在必行[2]。

1 失效机理和薄弱环节

要想对无源微波器件进行加速寿命试验，首先要看该产品是否具有加速性，即产品失效机理的一致性如何[3]，失效过程是否规律，产品是否服从同样的寿命分布。加速寿命试验设计之初，要先对产品失效机理和薄弱环节进行分析[4]。

某型号星载隔离器产品如图1所示。该产品在卫星有效载荷系统中位于功率放大器之后，主要对功率放大器进行保护，防止大功率反射对功率放大器造成损坏，改善功率放大器输出驻波。要求产品能长时间稳定地正向通过大功率微波信号，能吸收大功率反射信号。隔离器失效机理和薄弱环节分析，主要基于星载隔离器的故障模式影响分析（FMEA），明确影响其可靠性的薄弱点和关键元器件，通过对关键元器件的失效机理分析，评估其是否具备加速寿命试验的要求。……