头部核磁共振在新生儿脑损伤中的临床应用
2021-11-01康永强
影像研究与医学应用 2021年18期
康永强
(包头医学院第一附属医院医学影像科 内蒙古 包头 014000)
新生儿脑损伤一般是指新生儿自出生之日起到1周岁的时间内,因各种原因导致脑部出现的非进行性脑损伤[1]。包含先天性脑发育不全、脑性瘫痪、因婴儿期危重疾病或创伤而导致中枢神经系统功能发生障碍等。受该类疾病影响,患儿会表现出神经行为发育异常、中枢性运动障碍、智力低下、癫痫、视听障碍等。如脑瘫患儿,其本人的生活质量会常年维持在较低水平,同时会使家庭在经济、精神等方面承受巨大的压力。导致新生儿出现脑损伤的主要原因为:①在孕期或出生的过程中,新生儿因缺氧或缺血导致脑细胞伤损,约占新生儿脑损伤的60%~70%;②在妊娠期内发生宫内窘迫,出生后出现窒息、感染性疾病、颅内出血、先天性脑瘫或脑发育不全以及母亲有妊娠高血压综合征等疾病,均可能导致新生儿脑损伤[2]。综合而言,及早确诊该类疾病,及时治疗,尽最大努力降低脑损伤对新生儿造成的影响至关重要。本研究旨在分析头部核磁共振检测诊断新生儿脑损伤疾病的效果,现对研究过程进行梳理,面向社会公布。
1 资料与方法
1.1 一般资料
选取本院神经外科、妇产科于2020年1月—2021年1月收治的疑似脑损伤患儿中45例作为主要分析对象。45例患儿的一般资料如下:①男女人数比=23:22;②胎龄15~67 d,平均(41.54±3.49)d;③体质量2.5~4.3 kg,平均(3.43±0.35)kg。
纳入标准:①年龄在1周岁以下的新生儿;②出现嗜睡、精神萎靡不振、神经发育异常等现象,疑似脑部损伤的患儿;……
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